回路電阻的測量

主回路

為了把做過溫升試驗(型式試驗)的開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備與所有進行出廠試驗的同一型號的開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備進行比較，應(yīng)該進行主回路電阻的測量。

應(yīng)用直流測量每極端子間的電壓降或電阻。對于封閉開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備應(yīng)該作特殊考慮(見相關(guān)的標準)。

試驗電流應(yīng)該取100A至額定電流之間的任一電流值。

注：經(jīng)驗表明，僅憑主回路電阻增大不能認為是觸頭或聯(lián)結(jié)不好的可靠證據(jù)。此時，應(yīng)該使用更大的電流(盡可能接近額定電流)重復進行試驗。

直流電壓降或電阻應(yīng)在溫升試驗前在開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備所處的周圍空氣溫度下進行一次測量；溫升試驗后，當開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備冷卻到周圍空氣溫度時再測量一次，兩次所測得的電阻值的差不應(yīng)大于20%。

型式試驗報告中應(yīng)給出直流電壓降或電阻的測量值，以及試驗時的一般條件(電流、周圍空氣溫度、測量部位等)。

輔助回路

1級和2級輔助觸點電阻的測量

將1級和2級輔助觸點的每種類型的一個樣品接入阻性負載回路，然后加上開路電壓為6V(相對偏差為-15%)的直流電源，使其流過10mA的電流，按GB/T5095.2-1997的試驗2b測量其電阻。

閉合的1級和2級輔助觸點的電阻不應(yīng)超過50Ω。

注：觸頭材料出現(xiàn)的氧化可能會降低有效的載流能力，因此可能導致接觸電阻的增加，甚至在非常低的電壓回路中不能導通，而在較高的電壓回路中又沒有出現(xiàn)問題。本試驗的目的是為了檢驗在這些低電壓條件下觸頭的接觸性能。評估的判據(jù)考慮了電阻的非線性。50Ω的數(shù)值源于統(tǒng)計數(shù)據(jù)并已被用戶接受。

3級輔助觸點電阻的測量

將3級輔助觸點的一個樣品接入阻性負載回路，然后加上開路電壓≤30mV的直流電源，使其流過≤10mA 的電流，按正C61810-7測量其電阻。

閉合的3級輔助觸點的電阻不應(yīng)超過1Ω。